设备分类编码: 049900

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [动力与电气工程, 电子与通信技术, 航空、航天科学技术]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 010-64102095

电子邮箱: cesilab@cesi.cn

通讯地址: 北京市大兴区亦庄经济技术开发区同济南路八号

邮政编码: 100176

联系人: 孟博

仪器所属类别: 电子测量仪器>>其他>>其他

规格型号: T3STER

所属科研设施:

主要功能: ● 各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。 ● 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。 ● 各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。 ● 半导体器件结温测量。 ● 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 ● 半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。 ● 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。

主要技术指标: ● 测试通道数量：标配2通道，同一主机箱内可以升级至8通道 ● 温度采集响应时间：1μs ● 温度测量精度：±0.01℃ ● 通道测量解析度：12bit ● 通道噪声：±1bit ● 取样容量：每个通道64k ● 加热电压范围：标配1-10V，不确定度小于±1%。选配功率放大器，最大电压可达280V ● 加热电流范围：标配0.01-2A，不确定度小于±1%。选配功率放大器，最大电流达100A或更大 ● 加热功率脉冲：无时间限制 ● 热阻测量范围：0.002-1000℃/W，不确定度小于±1% ● 测试通道数量：标配2通道，同一主机箱内可以升级至8通道 ● 温度采集响应时间：1μs ● 温度测量精度：±0.01℃ ● 通道测量解析度：12bit ● 通道噪声：±1bit ● 取样容量：每个通道64k ● 加热电压范围：标配1-10V，不确定度小于±1%。选配功率放大器，最大电压可达280V

安放地址: 亦庄经济技术开发区同济南路八号111

服务内容: "各种复杂的散热模组的热特性测试。 半导体器件结温测量。 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。 材料热特性测量（导热系数和比热容）。 接触热阻测量，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。"

服务的典型成果: 曾为固态功率器件等重大专项提供测试服务。

对外开放共享规定: Cesi-TY(A)管理03 大型科研仪器设备开放使用管理办法

参考收费标准: 面议